scanning ion microscopy (sim) 意味
読み方:
日本語に翻訳
携帯版
- scanning ion microscopy (SIM)
走査[型]イオン顕微[鏡]法[基礎]
- scanning scanning 矯めつ眇めつ ためつすがめつ スキャニング
- ion ion n. 〔物理化学〕 イオン. 【動詞＋】 Ions are negatively or positively charged.
- microscopy microscopy 検鏡 けんきょう
- ion microscopy イオン顕微鏡｛けんびきょう｝
- scanning microscopy 走査顕微鏡｛そうさ けんびきょう｝
- ion microscopy イオン顕微鏡｛けんびきょう｝
- confocal laser scanning microscopy 共焦点｛きょう しょうてん｝レーザー走査顕微鏡｛そうさ けんびきょう｝
- scanning auger microscopy 走査型｛そうさ がた｝オージェ電子顕微鏡法｛でんし けんびきょう ほう｝
- scanning chemiluminescence microscopy 走査型化学発光顕微鏡｛そうさ がた かがく はっこう けんびきょう｝
- scanning electrochemical microscopy 走査型電気化学顕微鏡｛そうさ がた でんき かがく けんびきょう｝
- scanning electron microscopy 走査電子顕微鏡｛そうさ でんし けんびきょう｝◆【略】SEM
- scanning electron microscopy (sem) scanning electron microscopy (SEM) 走査[型]電子顕微[鏡]法[基礎]
- scanning electron microscopy imaging 走査電子顕微鏡像｛そうさ でんし けんびきょう ぞう｝
- scanning probe microscopy 走査型｛そうさ がた｝プローブ顕微鏡｛けんびきょう｝
- scanning transmission electron microscopy 走査型透過電子顕微鏡法｛そうさ がた とうか でんし けんびきょう ほう｝